DIC 2022展商丨瑟米萊伯,光伏、半導(dǎo)體、平板、LED領(lǐng)域檢測設(shè)備供應(yīng)商
2022-03-03 13:40:33
公司簡介
SEMILAB(展位號:F109)成立于1989年,是一家全球領(lǐng)先的檢測設(shè)備供應(yīng)商,擁有先進(jìn)的電學(xué)、光學(xué)測試技術(shù),產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于光伏、半導(dǎo)體、平板、LED和科學(xué)研究等領(lǐng)域。公司總部位于匈牙利布達(dá)佩斯,在美國、中國設(shè)有研發(fā)與生產(chǎn)中心,在歐洲和亞洲主要國家和地區(qū)都設(shè)有分支機構(gòu)。

自2004年以來,semilab相繼收購了一系列公司和光學(xué)、電學(xué)測試技術(shù),到目前為止已經(jīng)擁有超過150項專利技術(shù),成長為泛半導(dǎo)體行業(yè)領(lǐng)先的測試設(shè)備供應(yīng)商,給客戶的產(chǎn)品監(jiān)控和質(zhì)量控制提供完整的解決方案。

01
FPT測試平臺
02
SEMI測試平臺
針對快速發(fā)展的微顯示技術(shù),Semilab推出了基于半導(dǎo)體工業(yè)的晶圓測試平臺,可以應(yīng)用于硅基OLED、Micro LED等顯示技術(shù),滿足不同尺寸的晶圓及玻璃圓片的在線工藝測試。

兩種產(chǎn)品都可以集成Semilab不同的檢測技術(shù),包括電學(xué)特性、光學(xué)特性和表面形貌分析,給用戶提供高效的定制化測試方案。
① 業(yè)界領(lǐng)先的光學(xué)、電學(xué)測試技術(shù),包括薄膜膜厚及光學(xué)性能測試、半導(dǎo)體薄膜的電學(xué)性能表征、薄膜電學(xué)/光學(xué)缺陷測試和微觀結(jié)構(gòu)表面形貌測試等等。
03
用于研發(fā)、質(zhì)控的測試設(shè)備
·汞探針CV測試儀:
MCV測試儀采用氣動控制,通過無損傷和頂部汞接觸的探頭設(shè)計,消除了對貴金屬或多晶硅沉積工藝的需求。設(shè)備具有極其穩(wěn)定的接觸面積,僅使用少量汞就可以進(jìn)行高重復(fù)性的C-V和I-V測量,廣泛用于工藝開發(fā)和生產(chǎn)過程監(jiān)控,是半導(dǎo)體/外延層和介電層表征的卓越技術(shù)。

·光譜型橢偏儀:
- 非破壞性光學(xué)技術(shù),基于測量在非垂直入射時,光在樣品表面反射前后偏振狀態(tài)的變化,來獲取樣品的厚度、折射率和消光系數(shù)等信息。
- 即使對于低于5nm的薄膜厚度,也具有高度的靈敏度的技術(shù)。

·拉曼光譜測試儀:
拉曼光譜是一種能夠?qū)崿F(xiàn)實時監(jiān)測和表征的方法。該方法基于拉曼效應(yīng),該效應(yīng)描述了固體材料晶格振動(聲子)所涉及到的彈性散射光。從散射光的能量偏移,強度和偏振狀態(tài)中,可以獲得有關(guān)固體本身性質(zhì)的豐富信息。

·原子力顯微鏡:
- Semilab在掃描探針顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域和制造領(lǐng)域擁有豐富的經(jīng)驗,可幫助用戶在最短的時間內(nèi)獲得最佳和最可靠的結(jié)果。
- Semilab AFM設(shè)備的緊湊設(shè)計保證了出色的穩(wěn)定性和掃描速率。獨特的即插即用懸臂更換確保了儀器的快速和安全操作。

·納米壓痕測試儀:

·微波光電導(dǎo)衰退測試儀:

·渦流法電阻測試儀: